기업조회

본문 바로가기 주메뉴 바로가기

장비 및 시설 기본정보

실시간 전계 방사형 주사 전자 현미경

장비 개요

기관명, 장비번호, 제작사, 모델명, 장비사양, 취득일자, 취득금액 순으로 구성된 표입니다.
기관명 ZEUS
장비번호
제작사 Jeol
모델명 JSM7200F
장비사양
취득일자 2017-08-09
취득금액

보유기관 및 이용정보

보유기관명, 보유기관코드, 활용범위, 활용상태, 표준코드, 표준분류명, 시설장비 설명, 장비이미지코드, 장비위치주소, NFEC 등록번호, 예약방법, 카타로그 URL, 메뉴얼 URL, 원문 URL, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
보유기관명 한국생산기술연구원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드 A206
표준분류명
시설장비 설명 실시간 전계 방사 주사형 전자현미경(In-situ FE-SEM)은 일반 광학 현미경으로는 관측이 어려운 물질의 미세영역을 고분해, 고배율(최대배율 10배에서 100만배까지)로 확대하여 표면구조 및 형태를 확인할 수 있어서 모든 과학 분야의 재료 및 제품에 대한 연구 개발과 품질 관리 향상에 필수적인 기기이다. 전자총에서 방출된 전자빔을 집속시켜 시료 표면의 관찰영역을 주사하고 이 때 시료 표면에서 발생되는 여러 전자형태를 각종 검출기로 감지하여, 브라운관의 밝기로 변조시켜, 시료의 표면 형태 및 조성에 대한 각각의 영상을 얻어 출력할 수 있다. 전자빔을 방출 집속하는 전자 광학계, 시료실, 각종 검출기, 조작 테이블, 관찰 CRT 및 출력 장치 등 여러 부품으로 이루어져 있다.
장비이미지코드 http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201709/2017090615844389.jpg
장비위치주소 동남지역본부 첨단하이브리드생산기술센터
NFEC 등록번호 NFEC-2017-09-239573
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-201711160784
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, 주제어 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
주제어 (키워드)