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장비
장비 및 시설 기본정보
에너지 분산 엑스레이분광기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Bruker |
| 모델명 | QUANTAX 200 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2008-11-24 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국표준과학연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A400 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 소재의 표면 구조 분석을 위한 분석 장비로 20 ~ 500000 배의 배율로 관찰할 수 있는 고분해능 주사 전자현미경에 부착하여 사용하는 것으로 시료의 표면의 모폴로지와 미세구조에 따른 조성을 분석하는 용도임. 주기율표에서 탄소이상의 원소에 대해 분석 가능하며 조성의 일차원 및 이차원 mapping 분석이 가능하여 주사전자현미경 사진과 조성의 분포를 비교함으로써 재료분석의 신뢰성을 향상시킴. 정량 분석 및 정성 분석에 활용됨. 주사전자현미경의 분해능에 의존하며 공간분해능이 영향을 많이 받으며 평균 129 eV 의 분해능을 갖는다. 특징 FESEM 내에서 성분 분석 |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201104/20110426103831.JPG |
| 장비위치주소 | 한국표준과학연구원 신소재동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2009-06-071402 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0012933 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |