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장비
장비 및 시설 기본정보
주사탐침현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Bruker |
| 모델명 | Innova-IRIS |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2017-09-21 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국생산기술연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B500 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | -원자간 인력에 따라 3차원 형상 등 표면정보를 얻는 장비 -소재표면 국부 미소영역에 대해 정밀한 측정 및 분석가능(나노영역, 수~수십미크론 영역의 표면형상 및 특성분석) -morphology 및 roughness측정 -표면 마찰력, 전자기적 특성 분석 -나노인덴테이션기능 포함 |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201710/20171019104535371.jpg |
| 장비위치주소 | 한국생산기술연구원 실험동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2017-10-240261 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-201711160734 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |