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장비
장비 및 시설 기본정보
주사투과전자 탐지기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Hitachi |
| 모델명 | 539-9739 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2010-08-02 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국표준과학연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | D100 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 소재의 표면 구조 분석을 위한 분석 장비인 고분해능 주사 전자현미경은 전자를 표면에 주사하여 관찰하는 것인데 반해 STEM은 주사 및 투과 전자를 이용하여 시료를 관찰하는 것이 특징이다. 즉, 투과 전자현미경의 기능을 주사 전자현미경에서 사용가능하도록 한 특징이며 단점으로는 투과전자의 가속전압이 최대 30 KeV 로 기존의 투과 전자현미경의 일반적 가속 전압인 300 KeV 보다 작아 시료의 두께가 더 얇아야 하고 이미지 해상도가 다소 떨어짐. 따라서 표면에 붙어 있는 나노입자의 이미지 관찰에 주로 사용되며 에너지 분산 X-선 분광기를 함께 사용하여 조성 mapping을 할 수 있음. 명시야상과 암시야상의 이미지를 얻을 수 있으며 이로부터 나노소재의 구조 및 모폴로지 구분이 용이하게 된다. 특징 전자 주사 및 투과를 이용한 이미지 관찰 |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201104/20110426102511.JPG |
| 장비위치주소 | 한국표준과학연구원 신소재동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2010-08-082981 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0050396 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |