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장비 및 시설 기본정보
파라미터 분석기(나노프로브 매니퓨레이터 용)
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Keithley Instruments |
| 모델명 | 4200-SCS/F |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2014-10-24 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 대구경북과학기술원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | C514 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 장비설명 - 전자현미경(SEM) 진공쳄버 내부에 설치되는 프로브 워크스테이션(probe workstation)과 셋으로 운용하기 위한 장치로 프로브 워크스테이션에서 측정하는 값을 읽어 전기적 특성을 분석하는 장치임 - Modular, fully integrated parameter analyzer, - DC I-V, (C-V, and Pulsed I-V measurements). |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201411/20141125141423296.jpg |
| 장비위치주소 | 대구경북과학기술원 중앙기기센터 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2014-11-193653 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0046354 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |