기업조회

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장비 및 시설 기본정보

전계방사형 주사전자현미경

장비 개요

기관명, 장비번호, 제작사, 모델명, 장비사양, 취득일자, 취득금액 순으로 구성된 표입니다.
기관명 ZEUS
장비번호
제작사 Jeol
모델명 JSM-7001F
장비사양
취득일자 2007-11-28
취득금액

보유기관 및 이용정보

보유기관명, 보유기관코드, 활용범위, 활용상태, 표준코드, 표준분류명, 시설장비 설명, 장비이미지코드, 장비위치주소, NFEC 등록번호, 예약방법, 카타로그 URL, 메뉴얼 URL, 원문 URL, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
보유기관명 재료연구소
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드 A206
표준분류명
시설장비 설명 본 장비는 재료의 극미세 구조를 관찰하기 위한 전계 방사형 주사전자현미경으로 고배율에서 재료표면 형상 관찰이 가능하고, 특히 EBSD(전자후방회절장치) 와 EDS (에너지분산스펙트럼장치)를 병행하여 이용할 수 경우 고나찰 부위의 집합조직형태 및 화학적 조성을 동시에 분석할 수 있어 신소재 개발을 위한 연구 및 평가에 필수적인 장비로서 연구원 자체 연구에 활용됨과 동시에 창원지역의 부품 소재 관련 기업으로 부터 많은 분석의뢰가 있을 것으로 생각됨. 구성및성능 재료의 극미세 구조를 관찰하기 위한 전계 방사형 주사전자현미경 활용분야 - 고배율에서 재료 표면 형상 관찰 - 고나찰 부위의 집합조직 형태 및 화학적 조성을 동시에 분석
장비이미지코드 http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201406/2014061718221526.JPG
장비위치주소 재료연구소 연구4동
NFEC 등록번호 NFEC-2007-12-050043
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-KIMS-00023
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, 주제어 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
주제어 (키워드)