전계방사형 주사전자현미경
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Jeol |
모델명 | JSM-7001F |
장비사양 | |
취득일자 | 2007-11-28 |
취득금액 |
보유기관명 | 재료연구소 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | A206 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | 본 장비는 재료의 극미세 구조를 관찰하기 위한 전계 방사형 주사전자현미경으로 고배율에서 재료표면 형상 관찰이 가능하고, 특히 EBSD(전자후방회절장치) 와 EDS (에너지분산스펙트럼장치)를 병행하여 이용할 수 경우 고나찰 부위의 집합조직형태 및 화학적 조성을 동시에 분석할 수 있어 신소재 개발을 위한 연구 및 평가에 필수적인 장비로서 연구원 자체 연구에 활용됨과 동시에 창원지역의 부품 소재 관련 기업으로 부터 많은 분석의뢰가 있을 것으로 생각됨. 구성및성능 재료의 극미세 구조를 관찰하기 위한 전계 방사형 주사전자현미경 활용분야 - 고배율에서 재료 표면 형상 관찰 - 고나찰 부위의 집합조직 형태 및 화학적 조성을 동시에 분석 |
장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201406/2014061718221526.JPG |
장비위치주소 | 재료연구소 연구4동 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2007-12-050043 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-KIMS-00023 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |