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장비 및 시설 기본정보
시간비행형 이차이온 질량 분석기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Ion-tof |
| 모델명 | TOF-SIMS 5 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2014-12-14 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국과학기술원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B605 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 2차이온 질량분석법으로써 시료의 표면 분석을 통해 표면 정보 (조성 및 성분)을 얻을 수 있는 분석법으로 질량 스펙트럼 분석, 깊이방향 조성분석, 이미지 분석, 3차원 질량분포 분석등에 활용되는 장비임 |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201504/20150403174630147.jpg |
| 장비위치주소 | 한국과학기술원 W8-1/중앙분석센터 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2015-04-200970 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0054924 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |