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장비 및 시설 기본정보

반도체 파라미터분석기

장비 개요

기관명, 장비번호, 제작사, 모델명, 장비사양, 취득일자, 취득금액 순으로 구성된 표입니다.
기관명 ZEUS
장비번호
제작사 Keithley Instruments
모델명 4200-SCS/F
장비사양
취득일자 2014-03-18
취득금액

보유기관 및 이용정보

보유기관명, 보유기관코드, 활용범위, 활용상태, 표준코드, 표준분류명, 시설장비 설명, 장비이미지코드, 장비위치주소, NFEC 등록번호, 예약방법, 카타로그 URL, 메뉴얼 URL, 원문 URL, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
보유기관명 한국전기연구원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드 C514
표준분류명
시설장비 설명 본 장비는 반도체 wafer상태 및 디바이스 상태에서의 전기적 물성 및 특성을 측정하는 고정밀급 반도체용 계측장비로서 반도체의 동작 전압측정, 동작 전류측정, 누설전류 측정, breakdown 전압측정, 전도도 및 저항측정, 디바이스 수명예측,gate 산화막 계면 결함 준위 측정, Hot Carrier Test 등 다양한 파라미터 측정이 가능함
장비이미지코드 http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201405/2014051385353787.jpg
장비위치주소 한국전기연구원 제6연구동
NFEC 등록번호 NFEC-2014-05-187615
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0053320
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, 주제어 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
주제어 (키워드)