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원자간력 현미경

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보유기관명	대구경북과학기술원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드	A208
표준분류명
시설장비 설명	1986년 노벨물리학상을 받은 scanning probe microscopy (SPM)를 이용한 실험을 할 수 있는 장비임 나노 scale의 박막표면 및 물성 분석을 기본으로 하고, MEMS 기술이 접목된 cantilever(외팔보탐침)을 이용하여 Nano-scale의 표면정보에서 얻어진 값들을 이미지화하고, 샘플표면의 정보는 외팔보탐침의 주사를 통한 각 위치상의 측정값을 software를 통하여 이미지화할 수 있음 Conducting Atomic Force Microscopy (c-AFM) 방법을 이용해 국소적인 전류 분포, nano-scale 의 current domain 형성, 정보 저장 등을 확인하며, 정보저장장치에서 가장 중요한 매체인 conducting tip과 substrate 의 관계를 이해하기 위하여 다양한 전도성 시료를 실습에 활용할 수 있음
장비이미지코드	http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201412/20141211192834312.jpg
장비위치주소	대구경북과학기술원 E2
NFEC 등록번호	NFEC-2014-12-193998
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL	http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0046559
첨부파일