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장비 및 시설 기본정보
박막 트렌지스터 소자 신뢰성 측정 장비
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | 양전자시스템 |
| 모델명 | YAF-3747PM |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2010-03-09 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국전자통신연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | C0 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | - 박막 트렌지스터 소자 신뢰성 측정 장비 1. constant bias(Vgs) 조건 신뢰성 2. constant currents(Ids) 조건 신뢰성 3. 상기 1, 2, 측정조건에서 온도 신뢰성 측정(상 온 ~ 120oC) 4. 상기 1, 2, 3, 측정조건에서 광신뢰성 측정 (white LED : 100,000nt이상) |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201309/20130913105757524.jpg |
| 장비위치주소 | 한국전자통신연구원 4동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2010-03-078595 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0050805 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |