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주사탐침현미경 제어기

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보유기관명	한국표준과학연구원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드	A0
표준분류명
시설장비 설명	특징: Scanning probe microscopy의 주요 구성요소인 Nano-scanning stage를 원자분해능으로 구동하여 나노스케일의 영상을 얻기 위한 디지털 컨트롤러임. 5 MHz의 빠른 스캔을 보여주며 xy 방향의 미세한 스테이지 제어를 가능하게 함. 모든 feature가 소프트웨어를 통해 설정 제어가 가능함. 구성: 컨트롤러 본체와 이를 조종하는 입력기기로 구성되어 있으며 컨트롤러 내부에는 xy scan 엔진과 z 컨트롤러와 이를 위한 ADC DAC 입출력단이 있음 성능: xy Scan 은 5 MHz 16 bits output z scanner control 은 50 kHz 18 bit output 으로 이는 1 micrometer scan range에서 4 pm 의 분해능에 해당함. 활용분야: 원자힘현미경 및 그 응용 현미경 구동 ADC 단자로 신호를 받고 DAC 단자를 통해 SPM의 동작을 제어하는 컨트롤러입니다.
장비이미지코드	http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201104/20110429142529.jpg
장비위치주소	한국표준과학연구원 응용물리동
NFEC 등록번호	NFEC-2010-05-079304
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL	http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0017701
첨부파일