반도체 특성분석 시스템
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Keithley Instruments |
| 모델명 | 4200-SCS/F, 4210-SMU |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2006-09-12 |
| 취득금액 |
| 보유기관명 | 한국생산기술연구원 |
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| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | C514 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | ㅇ 원리 및 특징 이 장비는 과제를 수행하는데 있어서 OLED의 전극형성에 요구되는 Maskless patterning의 결과를 분석할 수 있는 semiconductor characterization system입니다. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201109/20110906144333.jpg |
| 장비위치주소 | 한국생산기술연구원 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2007-11-047575 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-kitech-00588 |
| 첨부파일 |
| 과학기술표준분류 | |
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| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |