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주사 탐침 현미경

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보유기관명	한국과학기술원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드	A206
표준분류명
시설장비 설명	시료표면과 탐침사이의 미세한 원자력을 감지함으로써 시료표면의 형상을 측정 SPM은 나노기술로 제조된 Probe를 사용하는데 이 Prove는 Prove의 모판(substrate) 끝에 아주 미세한 힘에서 쉽게 휘어지는 판형 스프링(cantilever) 끝에 원자 몇 개 정도의 크기로 끝이 가공된 탐침(tip)을 붙였다. 이 Probe tip의 끝을 샘플 표면에 근접시키면 끌어당기는 또는 밀어 내는 여러 가지 힘이 샘플 표면의 원자와 tip 끝의 원자 사이에 작용하는데 이 힘에 의해 cantilever의 휘어짐이 발생하고 이 힘이 일정하게 유지되도록 하면서 귀환회로에 의해 정밀 제어 하면서 각 지점(x,y)에서 스캐너의 수직위치를 저장하여 샘플 표면의 삼차원 영상을 얻을 수 있다.
장비이미지코드	http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201501/20150106162911560.jpg
장비위치주소	한국과학기술원 응용공학동(W1-1)
NFEC 등록번호	NFEC-2015-01-195452
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL	http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0048003
첨부파일