- HOME
- 기술정보
- 장비
장비
장비 및 시설 기본정보
투과분석 전자 현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Fei |
| 모델명 | Tecnai G2 F30 S-Twin |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2008-07-18 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국생산기술연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A205 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | ○ 짧은 파장의 전자선으로 시편을 투과 시료의 내부구조 및 결함 등을 관찰 - 투과전자빔을 이용한 나노두께의 박막이나 물질에 대한 구조적, 화학적, 물리적 특성 분석 - STEM 기능이용, 원자번호에 따른 질량 차(Z-contrast) 이용함으로서 물질 간 계면분석 및 화상처리를 통한 원자배열 영상화 - 수렴성빔전자회절법(CBED : Convergent Beam Electron Diffraction)을 이용하여 나노영역에서 재료의 결정구조를 정량적으로 분석 |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201501/20150115104727819.JPG |
| 장비위치주소 | 한국생산기술연구원 나노기술집적센터 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2015-01-195834 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-kitech-00757 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |