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장비
장비 및 시설 기본정보
반도체특성분석시스템
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Keithley Instruments |
| 모델명 | 4200-SCS/F |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2012-04-06 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 광주과학기술원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | C514 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 상기 물품은 반도체의 웨이퍼 상태 및 디바이스 상태에서의 전기적 물성 및 특성 측정(I-V 측정)을 하는 고정밀급 반도체용 측정장비로서 반도체의 동작 전압측정 동작 전류측정 누설전류 측정 브레이크 다운 전압측정 전도도 및 저항측정 디바이스 수명예측 Hot Carrier Test 등 다양한 반도체 특성 분석을 위한 파라미터들을 측정할 수 있다. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201404/201404259504797.jpg |
| 장비위치주소 | 광주과학기술원 신소재공학동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2012-04-165627 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0032910 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |