- HOME
- 기술정보
- 장비
장비
장비 및 시설 기본정보
입자크기 및 표면하전분석기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Otsuka Electronics |
| 모델명 | ELS-Z |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2005-12-07 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국화학연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B701 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 1)제타전위 : 일반적인 콜로이드 입자에서는 제타 전위의 절대치가 커지면 정전기적인 반발력이 커지므로 분산성은 좋게 되고 제타전위가 0에 가까워지면 불안정하게 되어 응집하기 쉬워진다. 즉 제타 전위가 분산안정성을 좌우함을 알수 있게 된다. 용액 중에서 전기적으로 마이너스 혹은 플러스로 하전 되어 있는 콜로이드 입자에 외부로부터 전장을 가하면 입자는 그 하전의 부호와 반대 방향을 향하여 영동(이동)한다. 이 때 영동하고 있는 입자에 광을 조사하게 되면 산란광은 그 영동 속도에 의존하는 도플러 시프트를 일으키게 되고 Heterodyne 광학계와 광자상관법을 조합하여 얻어진 상관계수를 고속 푸리에 변환(FFT)함으로서 도플러시프트 량을 구하고 전장 및 용매의 물성치를 고려하여 제타전위·전기이동도를 구한다. 2)입경 용액 중에 분산되어 있는 입자는 입경에 의존한 브라운 운동을 하고 있어서 입자에 광을 조사한 경우 얻어지는 광산란은 큰 입자는 천천히 작은 입자는 빠른 움직임을 나타낸다. 이 움직임을 광전자상관법으로 해석함으로서 입경 및 입도분포가 구해지게 된다. 2.본 제품특징 1)제타전위 : -저농도부터 고농도시료의 제타전위·입경 측정이 가능 -전기침투류를 실측하는 고정도의 제타전위 측정 -다양한 시료에 맞게 측정할 수 있는 셀을 준비 -조작이 단순한 셀 사용하기 쉬운 기능이 충실한 소프트웨어 2)입도 : -폭넓은 입경 범위/농도 범위에서의 고정도 측정을 실현 -LOG 스케일 상관계와 LINEAR 스케일 상관계를 둘다 탑재 -새로운 CONTIN 해석법을 추가 -JIS Z 8826:2005 입경해석-광자상관법에 준거 ISO 13321:1996에 준거 |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201102/20110214184534.jpg |
| 장비위치주소 | 한국화학연구원 1연구동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2011-02-141202 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-KRICT_PA-00208 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |