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장비
장비 및 시설 기본정보
원자력 현미경 시스템
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | 파크시스템스 |
| 모델명 | XE-70 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2010-12-17 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국과학기술연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A208 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | - 시료와 탐침원자간에 작용하는 힘을 이용 시료의 표면형상 측정 - XY와 Z축 scanner 독립제어함으로써 2차원 곡률오차 최소화 - XY Scan range : 50x50 mm Z Scan range : 12 mm - Contact/Non-contact mode 측정 - 시편 표면 거칠기 및 나노구조 표면형상 분석 (기타) 플라즈모닉스 기반 나노컬러링 기술외 2개 계정으로 공동구매 |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201101/20110114174526.jpg |
| 장비위치주소 | 한국과학기술연구원 연구동(L0) |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2011-01-133500 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0021934 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |