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장비
장비 및 시설 기본정보
주사현미경 본체
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Hitachi |
| 모델명 | S-4700 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2013-06-24 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국과학기술원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 전자빔을 물질에 주사할때 발생하는 2차전자를 감지하여 CRT에 나타냄으로써 고배율로 물질의 표면을 관찰하는 장비 주사전자현미경은 전자선이 시료면 위를 주사(scanning)할 때 시료에서 발생되는 여러 가지 신호 중 그 발생확률이 가장 많은 이차전자(secondary electron) 또는 반사전자(back scattered electron)를 검출하는 것으로 대상 시료를 관찰한다. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201309/2013090317452455.jpg |
| 장비위치주소 | 한국과학기술원 궁리실험관 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2013-09-182926 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0040331 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |