형광현미경
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Olympus |
| 모델명 | BX51TRF |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2009-02-25 |
| 취득금액 |
| 보유기관명 | 한국표준과학연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A201 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | Fluorescence mode Bright field (BF) 및 Dark field (DF) 하에서의 미세구조 관찰. -투과 모드 및 반사모드로 미세구조 관찰 가능. - CCD 카메라가 장착되어있어 관찰하고 있는 미세구조의 이미지를 저장할 수 있음. Fluorescence mode Bright field (BF) 및 Dark field (DF) 하에서의 미세구조 관찰. -투과 모드 및 반사모드로 미세구조 관찰 가능. - CCD 카메라가 장착되어있어 관찰하고 있는 미세구조의 이미지를 저장할 수 있음. Fluorescence mode Bright field (BF) 및 Dark field (DF) 하에서의 미세구조 관찰. -투과 모드 및 반사모드로 미세구조 관찰 가능. - CCD 카메라가 장착되어있어 관찰하고 있는 미세구조의 이미지를 저장할 수 있음. 특징 반사 및 투과 모드로 이미징 형광시료분석가능 |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201104/20110411142842.jpg |
| 장비위치주소 | 한국표준과학연구원 신소재동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2009-06-071419 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0012939 |
| 첨부파일 |
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |