화학소재 고주파대역 유전특성 분석 장치
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Agilent Technologies |
모델명 | E4991A |
장비사양 | |
취득일자 | 2009-07-09 |
취득금액 |
보유기관명 | 한국화학연구원 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | D102 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | 특징 - 본 장비는 고정밀 임피던스분석기로 전자부품 및 재료 측정을 위한 필수적인 장비이며 ±0.8% Accuracy를 갖는 고정확도의 측정이 요구되는 테스트를 행하며 전자부품의 품질 및 생산 효율을 향상 시키는 데 유용한 장비이다. 특히, 3GHz의 높은 주파수 측정 범위에서 여러가지 특성요소(Z,R,C,Y,X,B,G,Q,D)를 측정할 뿐만 아니라 16453A 유전율 측정 액세서리를 이용하여 최대 1GHz 주파수 대역의 재료 유전율값(?)을 용이하게 측정하는 장비입니다. Measurement Parameter : /Z/ qz /Y/ qy R X G B CsCpLsLpRpRsDQ/G/ qG Gx Gy Impedance analysis |
장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201101/20110127134004.jpg |
장비위치주소 | 한국화학연구원 1연구동 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2009-09-072135 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0013632 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |