프리즘 커플러
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Metricon |
| 모델명 | 2010/M |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2009-11-10 |
| 취득금액 |
| 보유기관명 | 한국전기연구원 |
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| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | F202 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 특징 측정방법은 굴절률이 정해진 기판(Quartz Si-wafer)위에 시료를 코팅하고 코팅된 막위에 프리즘을 접촉하고 빛을 조사시켜 프리즘 시료막 기판에서의 빛의 도파작용을 통해 얻어진 값으로 시료막의 굴절률 및 두께를 측정하는 원리 |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201109/20110923112048.jpg |
| 장비위치주소 | 한국전기연구원 제3연구동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2010-02-078455 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0017408 |
| 첨부파일 |
| 과학기술표준분류 | |
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| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |