분광분석기
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Oblf Gmbh |
모델명 | VeOS |
장비사양 | |
취득일자 | 2015-11-19 |
취득금액 |
보유기관명 | 한국생산기술연구원 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | B518 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | - 전기적인 열원인 SPARK SOURCE로 시료(SAMPLE)를 SPARK시켜 충전 상태의 분자를 원자화시킨다. 이때 각 금속 성분 원자의 최외각전자(자유전자)가 높은 에너지 준위(HIGH ENERGY LEVEL)의 전자궤도로 여기 되었다가 원래의 에너지 준위(GROUND ENERGY LEVEL)의 궤도로 전이하면서 준위 간 에너지 차에 해당하는 빛이 방출된다 이 빛이 회절격자(GRATING)에서 원소별 고유파장으로 회절이 되어 반도체 검출기(SEMICONDUCTOR DETECTOR)에 투사되며 투사된 빛의 세기(INTENSITY)에 따라 농도(CONCENTRATION)가 결정된다. |
장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201512/2015121791453637.jpg |
장비위치주소 | 한국생산기술연구원 PP2 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2015-12-206592 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0059582 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |