표면적/기공 크기 자동 분석 시스템
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Quantachrome Instruments |
모델명 | QUADRASORB-SI-KR/MP |
장비사양 | |
취득일자 | 2007-07-31 |
취득금액 |
보유기관명 | 한국지질자원연구원 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | B704 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | 4개의 시료에 대하여 동시에 3.5~20 Angstrom에 이르는 마이크로 기공의 크기 분포를 측정 할 수 있으며, 3.5~5000 Angstrom 범위의 기공을 가진 시료에 대하여 비표면적, 기공분포도, 전체 기공 체적, 기공 크기 측정이 가능함. 5 point BET를 기준으로 Maxi- Dosing Method로 15분 이내 측정이 가능함. P/P0를 최소 1x10-5 범위까지 얻을 수 있으며, 고감도 트랜스듀서(1 or 10 torr)를 사용하여 Low Surface Area 측정 시 유리함. |
장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/200712/20071226220630.jpg |
장비위치주소 | 한국지질자원연구원 자원시스템연구동 (B6) |
NFEC 등록번호 | NFEC-2007-12-050058 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0053331 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |