표면적/기공 크기 자동 분석 시스템
| 기관명 | ZEUS | 
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Quantachrome Instruments | 
| 모델명 | QUADRASORB-SI-KR/MP | 
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2007-07-31 | 
| 취득금액 | 
| 보유기관명 | 한국지질자원연구원 | 
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B704 | 
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 4개의 시료에 대하여 동시에 3.5~20 Angstrom에 이르는 마이크로 기공의 크기 분포를 측정 할 수 있으며, 3.5~5000 Angstrom 범위의 기공을 가진 시료에 대하여 비표면적, 기공분포도, 전체 기공 체적, 기공 크기 측정이 가능함. 5 point BET를 기준으로 Maxi- Dosing Method로 15분 이내 측정이 가능함. P/P0를 최소 1x10-5 범위까지 얻을 수 있으며, 고감도 트랜스듀서(1 or 10 torr)를 사용하여 Low Surface Area 측정 시 유리함. | 
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/200712/20071226220630.jpg | 
| 장비위치주소 | 한국지질자원연구원 자원시스템연구동 (B6) | 
| NFEC 등록번호 | NFEC-2007-12-050058 | 
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0053331 | 
| 첨부파일 | 
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |