반도체 특성 측정장치
| 기관명 | ZEUS | 
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Agilent Technologies | 
| 모델명 | E5262A | 
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2009-02-17 | 
| 취득금액 | 
| 보유기관명 | 한국기계연구원 | 
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | C525 | 
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 전극 사이에 부착된 나노물질의 특성 평가 | 
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201001/NFEC-2010-01-077999.jpg | 
| 장비위치주소 | 한국기계연구원 | 
| NFEC 등록번호 | NFEC-2010-01-077999 | 
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0053216 | 
| 첨부파일 | 
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |