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태양전지 계면 특성 평가시스템

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보유기관명	한국생산기술연구원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드	C514
표준분류명
시설장비 설명	ㅇ 원리 및 특징 - This Instruments is powerful tool for the study of electrically active defects in multi-layer. - The technique is an extremely versatile technique for the determination of virtually all parameters associated with traps including density thermal cross selection energy level and special profile. - Digital read-out of leakage current during temperature sweep. - External signal input allows analysis of transients other than capacitance such as current or charge. - Fast responding capacitance meter 3 microseconds response time. - Used for trap profiling with the double correlation method. - Simultaneous recording of four or more spectra at different rate windows and thus determination of all trap signatures in a single temperature scan. - Rapid recovery from strong overload conditions e.g. 20mA injection current. - Secondary correlator used for generating two spectra with different rate windows in a single temperature sweep. - Trigger input allows triggering of correlator with external accessories.
장비이미지코드	http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201005/20100503172509.jpg
장비위치주소	한국생산기술연구원 호남권 지역본부
NFEC 등록번호	NFEC-2010-05-079708
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL	http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0017698
첨부파일