엑스선 회절분석기
| 기관명 | ZEUS | 
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| 장비번호 | |
| 제작사 | Bruker | 
| 모델명 | XRD 27 | 
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2010-05-26 | 
| 취득금액 | 
| 보유기관명 | 한국표준과학연구원 | 
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| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B520 | 
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 특징 1. 엑스선 포톤을 측정하는 일차원 검출기 측정속도를 증가시킴(기존 신티레이션 카운터보다 200배) 2.분말시편의 경우 빠르고 높은 회절강도로 측정가능하여 Rietveld 분석에 강점 | 
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201101/20110112083245.jpg | 
| 장비위치주소 | 한국표준과학연구원 신소재동 | 
| NFEC 등록번호 | NFEC-2010-06-080088 | 
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0017822 | 
| 첨부파일 | 
| 과학기술표준분류 | |
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| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |