주사전자현미경
| 기관명 | ZEUS |
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| 장비번호 | |
| 제작사 | Philips |
| 모델명 | XL 30 SFEG |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2001-02-27 |
| 취득금액 |
| 보유기관명 | 한국과학기술원 |
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| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 고진공중에 놓여진 시료표면을 1-100nm 정도의 미세한 전자선으로 x-y의 이차원 방향으로 주사하여 시료표면에서 발생하는 신호를 검출하여 시료의 형태 미세구조의 관찰이나 구성원소의 분포 정성 정량등의 분석을 행하는 장치이다 |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201501/2015010214244462.jpg |
| 장비위치주소 | 생명화학공학과 응용공학동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2015-01-195364 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-KAIST-00008 |
| 첨부파일 |
| 과학기술표준분류 | |
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| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |