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장비
장비 및 시설 기본정보
Parameter 측정장치
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Agilent Technologies |
| 모델명 | 4156 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2005-01-01 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 나노종합기술원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | C514 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 본 측정 장치는 반도체 소자의 특성을 측정하고 분석하기 위한 전자 장치이다. 본 장치를 이용하여 반도체 소자의 전압과 전류에 대한 특성과 저항값을 측정함으로써 설계된 소자에 대한 특성 검증 및 파라메터 분석을 수행한다. 측정 대상은 웨이퍼에 구현된 단위소자부터 패키지 형태의 반도체 제품까지 가능하다. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201408/2014081410357468.jpg |
| 장비위치주소 | 한국과학기술원 나노종합팹센터 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2007-11-047878 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0045111 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |