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Semi-auto 프로브 스테이션

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보유기관명	나노종합기술원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드	C514
표준분류명
시설장비 설명	전기적 특성 측정은 크게 세가지 영역으로 분류할 수 있다. 첫째 :수많은 수동/능동소자로 구성된 반도체 칩(IC)이 원하는 기능으로 동작하는지 여부를 판단하는 Function 테스트 둘째 :반도체 생산 공정을 제어하여 수율 향상을 목적으로 하는 PCM(Process Control Monitor) 테스트 셋째 :반도체 개발 단계에서 공정 및 소자 특성을 분석 최적화하기위한 일반적인 벤치테스트 반도체 소자는 개별소자(Discrete Device) 또는 이들 개별 소자가 단일 칩으로 집적화된 집적회로(IC : Integrated Circuit) 형태로 제작되어 사용되며 이들 반도체 소자를 개발하기 위해서는 전기적인 특성 분석이 필수적이다. 반도체 소자의 대부분의 DC/AC 특성은 인가된 전압에 대하여 일정한 형태의 선형 또는 비선형 특성을 나타낸다
장비이미지코드	http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201405/20140514145523611.JPG
장비위치주소	카이스트 부설 나노종합기술원 나노종합기술원
NFEC 등록번호	NFEC-2007-11-047882
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL	http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0007494
첨부파일