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장비
장비 및 시설 기본정보
탁상형 미세구조 영상분석기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | 쎄크(Sec) |
| 모델명 | SNE-4500M |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2014-06-19 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국전기연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 리튬 및 나트륨 이차전지의 전극 소재 및 충/방전 후 발생할 수 있는 전극 표면, 입자에 전자 빔을 주사하여 표면에서 발생하는 2차 전자(SE)를 수집하여 영상신호로 변환, 스캐닝 해주는 주사전자현미경으로 표면 및 미세조직, 파단면 등을 최대 100,000배의 고 배율까지 관찰할 수 있으며, 기존 SEM과 동일한 분해능과 측정 프로그램을 구현하고, 모듈 소형화를 실현함으로써 설치면적의 제한이 없고, 이동성과 편의성을 부여함과 동시에 일반 전자현미경에 비해 진공시간이 3분 이내로 신속한 시료분석을 가능한 장비이다. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201407/20140709162239353.jpg |
| 장비위치주소 | 한국전기연구원 제3연구동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2014-07-190178 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0053447 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |