| 시설장비 설명 |
고출력 X-선회절기 물질 상(phase)분석 및 구조특성 분석. 나노물질 및 박막의 구조특성 미지시료의 결정학적 특성 분석(ab initio) 및 공통 기본 장비로 활용 물질에서의 X-선 회절현상을 이용하여 물질의 구조 및 구조특성을 분석 평가하는 장비로서 X-선 회절기(X-Ray Diffractometer)라고 한다. 현재의 구입 모델은 주로 분말 시료에 응용할 수 있는 모델이나 박막 분석으로의 확장 응용일 가능하다. 최대 9 kW의 X-선 발생 출력의 rotating anode와 scintillation 방식의 X-선 검출기 및 optical encoder 방식의 계측 고니오미터와 중앙의 분말 샘플 홀더로 구성된다. 고출력을 사용함으로서 작은 양의 분말이나 또는 특수 단색화 장치를 이용한 측정이 가능하고 광학 엔코더 를 사용함으로서 1/1000 도 까지의 측정 정밀도를 갖고 있다. 이와같은 구성으로 인해 분말 및 박막 등에 관해 응용성이 대단히 넓다. 분말의 결정구조 및 상(phase) 분석 이나 신물질의 결정구조분석 격자상수 분석 잔류응력 분석 결정입자 크기 분석 등 다양한 구조분석을 행할 수 있다. 특히 응용성을 확대하여 특수 단색화 장치를 같이 사용하게 되면 순수한 단파장으로서 측정 분석이 가능하여 정밀 분석이 가능하게 된다. |
