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장비 및 시설 기본정보
in-situ 중성자반사율측정용 정밀고온제어 시료환경장치 제작
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | 피디시테크놀로지 |
| 모델명 | 개발장비 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2016-06-09 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국원자력연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | F100 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 중성자 및 X선 반사율 측정시 실시간으로 고온에서 진공 분위기내 고분자 및 연성물질 박막의 구조를 측정하기 위해 "in-situ 중성자반사율측정용 정밀고온제어 시료환경장치" 를 제작한 것이다. 중성자 입사빔과 시료 표면에서 반사된 빔이 산란을 최소화 하여 시료환경장치 window를 통과하기위해 사파이어 재질로 제작하였다. Neutron 반사율 측정용 직경 3인치(두께 5~10mm) WAFER 시료 및 X-ray 반사율 측정용 직경 3인치 이하 (두께 0.3 mm)에 대한 고온(상온~300 도씨)및 진공 (10-7 torr) 환경에서 중성자 반사율 측정 실험을 위한 시료환경장치이다. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201606/20160628209169.jpg |
| 장비위치주소 | 한국원자력연구원 냉중성자실험동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2016-06-210469 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0061429 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |