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장비 및 시설 기본정보
엑스선반사율측정장치
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Bruker |
| 모델명 | D8 DISCOVER |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2016-10-25 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국원자력연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B520 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | - 엑스선 빔이 박막 표면에 저각으로 입사했을때 거울 반사되는 엑스선 빔의 세기를 측정 및 분석함으로서 대상 박막의 밀도, 두께, 표면/계면 거칠기에 관한 구조정보를 구할 수 있는 분석 장치임. - X선 회절 (X-ray diffraction)을 이용하여 단결정 및 다결정 박막의 결정성, 배향성에 관한 정보를 구할 수 있음 - Anton Parr DHS1100 고온시료환경장치(최대 1100도)보유 |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201610/20161028112258173.jpg |
| 장비위치주소 | 한국원자력연구원 냉중성자실험동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2016-11-212615 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0062573 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |