| 시설장비 설명 |
원자현미경(AFM, atomic force microscope)은 나노미터 수준의 미세한 탐침을 이용하여 표면특성을 분석하고 표면을 개질(modification)하는 주사탐침현미경(Scanning Probe Microscope)의 일종으로서, 탐침과 시료간의 원자간 상호작용에 의해 작용하는 힘(인력과 척력)을 이용하여 물질표면의 물리화학적 구조에 대한 정보를 얻을 수 있는 기기이다. 물질표면의 구조에 대하여 Å 단위까지의 표면 원자배치 및 형상에 대한 입체적인 정보뿐만 아니라 마찰력(friction), 정전기력(electrostatic force), 흡착력(adhesion) 등 다양한 표면의 성질을 비교적 간단한 방법으로 파악할 수 있다. 미세한 탐침이 표면을 접촉 또는 비접촉으로 스캔하면서 표면과의 상호작용에 의해 상하 및 좌우로 움직이게 되는데, 이러한 움직임은 탐침에 투사한 레이저의 반사광에 의해 포토다이오드를 통해 감지되고 측정된 신호가 앰프에 의해 증폭되면서 시료표면의 형상 및 마찰력, 정전기적 특성, 흡착력 등을 측정할 수 있게 된다. 다른 탐침현미경과 달리 도체뿐만 아니라 부도체 시료의 표면도 측정하여 분석할 수 있다는 장점이 있다. |
