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장비 및 시설 기본정보
캐리어라이프타임측정장비
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Freiberg Instruments |
| 모델명 | MDP-spot |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2013-05-22 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 녹색에너지연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | D100 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 1. 본 기기는 테이블 탑 타입의 캐리어 라이프타임 측정기기로서 다양한 단계의 단결정 및 다결정 실리콘의 캐리어 라이프타임을 측정할 수 있다. 2. 본 기기는 마이크로웨이브 흡수 디텍팅 방식으로 비접촉 비파괴로 Carrier lifetime을 측정한다. 3. 본 기기는 단결정 및 다결정 실리콘 Ge SiGe GaAs InP SiC GaN epitaxial layer등 광범위한 재료에 적용된다. 4. 본 기기는 MDP(Microwave Detected Photoconductivity_steady state)와 u-PCD(non equilibrium)의 2가지 방식을 제공할 수 있다. 5. 본 기기는 brick이나 wafer cell의 Carrier lifetime를 별도의 전처리 없이 바로 측정하며 50um부터 210mm 까지 높이가 조절 가능하다. 6. 1mm 침투 깊이는 시료의 표면 뿐만이 아니라 bulk 시료의 균일성에 대해 효율적인 측정이 가능하다. 7. 본 기기의 측정시간은 1포인트 당 수백 us이다. 8. 본 기기는 윈도우 기반의 PC에 의해 구동되는 Software를 제공하고 간단한 동작 버튼 으로 쉽게 구동된다.Minority carrier lifetime(MDP u-PCD) photoconductivity 측정 Wafer 또는 Block의 One 측정 방식 Resistivity 측정 Iron-concentration 측정실리콘 웨이퍼(기준 6inch급)의 금속 및 반도체 재료의 소수캐리어의 라이프 타임을 측정하는 장비로서 결정질 실리콘 태양전지의 효율저하 원인등을 평가할수 있는 연구장비에 해당함. |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201306/.thumb/20130627183432704.jpg |
| 장비위치주소 | 전남 목포시 석현동 1175-4번지 (재)서남권청정에너지기술연구원 (재)서남권청정에너지기술연구원 본관동 1층 특성평가실 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2013-06-180424 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0039170 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |