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장비 및 시설 기본정보

전계방사형 투과전자현미경

장비 개요

기관명, 장비번호, 제작사, 모델명, 장비사양, 취득일자, 취득금액 순으로 구성된 표입니다.
기관명 ZEUS
장비번호
제작사 FEI
모델명 FECNAI G2 F20S-TWIN
장비사양
취득일자 2013-11-15
취득금액

보유기관 및 이용정보

보유기관명, 보유기관코드, 활용범위, 활용상태, 표준코드, 표준분류명, 시설장비 설명, 장비이미지코드, 장비위치주소, NFEC 등록번호, 예약방법, 카타로그 URL, 메뉴얼 URL, 원문 URL, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
보유기관명 한국생산기술연구원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드 A205
표준분류명 시험
시설장비 설명 - 가속전압 : 20~200KV - Emission Tip : Schottky field emmitter - 전압안정도 : 1 ppm/min - Auto beaam alignment setting - 분해능 : point 0.24nm, line 0.10nm - Objective Lens : focal length 1.7nm, OL apperture 8(10,20,30,40,50,60,80,100mircon), 구면수차 1.2nm, 색수차 1.2nm, 전류안정도 <1% - Condensor Lens : C1 appertures 4 (30,50,70,2000micron), C2 appertures 4(50,70,100,150micron), beam tilt angle 100mrad, 최소 probe dia. <0.3nm - SADP : SAD 관찰범위 30~4500mm, Diffraction관찰각도 13도 - 배율 : 25~1030배 - EDS port : sold angle 0.13 str, Take-off각도 20도 - 진공펌프 : TMP
장비이미지코드 http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201312/2013121217324171.JPG
장비위치주소 한국생산기술연구원 PP3동
NFEC 등록번호 NFEC-2013-12-184352
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-kitech-00273
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, 주제어 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
주제어 (키워드)