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장비 및 시설 기본정보
원자력 현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | 파크시스템스 |
| 모델명 | XE-100 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2013-06-24 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 고려대학교 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A208 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | Complete Atomic Force Microscope system for small and medium size samplesconsisting of completely decoupled XY & Z scanners using flexure guided scan systemfor all three axes closed/open-loop scan zero background curvature XY flexure scannerXE AFM scanning head direct on-axis optics high resolution digital CCD camera withdigital zoom motorized Z focus stage manual precision XY sample stage electronicscontroller software and cantilevers.Includes the followings; 1. Completely Decoupled XY & Z Scanners with Closed-Loop Feedback 2. SLD XE AFM Head 3. Direct On-Axis Optical Microscope 4. High Resolution Digital CCD Camera with Digital Zoom 5. Motorized Focus Stage for On-Axis Optics 6. Motorized Z Stage 7. Manual High Precision XY Stage 8. XE-Series Electronics 9. Software 10. Standard Accessories 11. System Computer with Dual Monitors- 교차간섭 제거를 통한 아티팩트 없는 이미징 시료와 팁에 2개의 독립된 클로즈드 루프 XY 및 Z 플랙셔 스캐너 사용 전체 스캔 범위에서 2nm 미만의 평면 외 움직임 잔여 굴곡이 적은 최대 100μm x 100μm의 평면 선형 XY 스캔 고출력 스캐너로 최대 25μm의 Z 스캔 정확한 높이 측정 분당 0.5nm 미만의 낮은 표류도 - 완전 비접촉 모드의 탁월한 원자현미경 분해능 압전 튜브보다 10배 넓은 Z 스캔 대역폭 팁 마모를 줄여 장시간 동안 고해상도로 측정 가능 시료 손상 또는 변형 최소화 태핑 이미징과 달리 결과가 외부 변수에 좌우되지 않음 - 사용자의 편의를 위한 EZ 설계 팁과 시료에 폭넓게 접근 가능 스냅식 팁 교환 및 EZ 레이저 빔 정렬 헤드를 손쉽게 분리할 수 있는 열장식 잠금 장착부 고해상도 광학 관찰을 위한 직접 관찰 광학장치 전동식 광학 스테이지 - 모듈식 플랫폼과의 완벽한 옵션 호환성 전체 SPM 모드 및 옵션장비를 구축함에 따라 도체 및 부도체 표면의 단면 및 표면을 2차원 및 3차원 형상화 할 수 있다. - 본 장비에 옵션으로 부착되는 EFM PFM MFM등을 이용하여 시료의 표면에서의 국부적인 전기적 특성을 이해하여 광변환 디바이스의 성능 및 특성을 향상시키는 연구에 중요한 역할을 할 수 있다. |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201308/.thumb/2013080610152621.bmp |
| 장비위치주소 | 세종 조치원읍 서창리 고려대학교세종캠퍼스 208 고려대학교 세종캠퍼스 학술정보원 지하1층 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2013-08-181592 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0039466 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |