전계방사형 투과전자현미경
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Jeol |
모델명 | JEM2100F |
장비사양 | |
취득일자 | 2004-12-29 |
취득금액 |
보유기관명 | 재료연구소 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | A205 |
표준분류명 | 시험 |
시설장비 설명 | 본 장비는 Field Emission electron Gun을 이용하여 고분해능 미세조직과 결정구조 화학적 성분의 정보를 얻는다. |
장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201407/20140711101510942.JPG |
장비위치주소 | 재료연구소 연구4동 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2004-12-008636 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-202006045409 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |