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장비 및 시설 기본정보
극저온 진공 적외선 분광시스템(Vertex 80V/PTSHI-950-5-FTIR)
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Bruker |
| 모델명 | Vertex 80v |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2013-12-16 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국과학기술연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B502 |
| 표준분류명 | 계측 |
| 시설장비 설명 | 근적외선 영역과 중적외선 영역의 파장영역에서 물질의 투과 및 반사를 측정하는 장비로서 장비가 1.5헥토파스칼의 진공을 유지하기 때문에 공기 중의 수분이나 이산화탄소의 영향을 배제할 수 있어서 중적외선 대역의 파장영역에서 미소 신호를 검출하기에 합당하다. 그리고 이러한 특성외에 반도체의 포토루미네선스 포토커런트 등 반도체 소재의 분광특성과 반도체 검출기 등의 특성을 측정할 수 있는 장비이며 극저온 실험을 위해 액체 헬륨용 크라이오스텟을 갖추고 있다. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201405/20140515152212171.jpg |
| 장비위치주소 | 한국과학기술연구원 연구동(L1) |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2014-05-188217 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-KIST-00018 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |