| 보유기관명 |
순천대학교 산학협력단 |
| 보유기관코드 |
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| 활용범위 |
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| 활용상태 |
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| 표준코드 |
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| 표준분류명 |
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| 시설장비 설명 |
고전압으로 하전된 전자가 금속양극에 충돌하여 발생하는 백색 X-선을 시료에 조사하여 회절된 빔을 해석.X-ray tube: Rh-anode Cystal : 1) LiF(200): K to U 2) PET: Al to Ti 3) OVO-55: O to Si 4) LiF(220): High resolution V and U 5) Ge: P S Cl Smaple magazine : 60표면의 특성을 원자단위까지 측정 |
| 장비이미지코드 |
http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201307/.thumb/2013073110130479.jpg |
| 장비위치주소 |
전남 순천시 매곡동 순천대학교 315번지 순천대학교 공동실험실습관 4층 404 |
| NFEC 등록번호 |
NFEC-2007-10-019203 |
| 예약방법 |
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| 카타로그 URL |
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| 메뉴얼 URL |
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| 원문 URL |
http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0012090 |
| 첨부파일 |
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