| 시설장비 설명 |
Photoluminescence measurement system의 구성은 785nm 레이저 그에 따른 detector Xe lamp 그에 따른 detector 이렇게 크게 4부분으로 구성되어 있다. 레이저 혹은 램프로 에너지를 가하여 주었을 때에 대상 재료가 어떠한 광학적 특성을 나타내는지 알아 볼 수 있는 장치이다. 그 사용 예를 들면 Nanocrystal은 그 물질이 bulk 상태 일때와는 다른 size-dependent한 band gap을 가지고 있다. 여기에 laser 및 램프를 이용하여 에너지를 가하여서 exciton(electron - hole pair)을 생성시킬수 있다. Exciton 즉 charge carrier인 electron-hole pair가 형성된 이후 그것들은 다시 recombination하여 radiative process 혹은 non-radiative process를 통하여 에너지를 방출하게 된다. 우리가 구축하고 있는 PL measurement system을 이용하면 carrier recombination에 의해 radiative process를 통하여 방출되는 energy의 wavelength를 측정할 수 있고 그에 따라 대상 재료의 size band gap 등을 알아 낼 수 있다. |
