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장비 및 시설 기본정보

투과전자현미경

장비 개요

기관명, 장비번호, 제작사, 모델명, 장비사양, 취득일자, 취득금액 순으로 구성된 표입니다.
기관명 ZEUS
장비번호
제작사 Jeol
모델명 JEM-2100F
장비사양
취득일자 2009-07-14
취득금액

보유기관 및 이용정보

보유기관명, 보유기관코드, 활용범위, 활용상태, 표준코드, 표준분류명, 시설장비 설명, 장비이미지코드, 장비위치주소, NFEC 등록번호, 예약방법, 카타로그 URL, 메뉴얼 URL, 원문 URL, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
보유기관명 한양대학교 ERICA캠퍼스
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드 A205
표준분류명
시설장비 설명 전자 재료 화공 기계 및 생물분야에서 연구개발과 제품 및 부품의 성능을 분석 평가하는데 잇어서 필수적인
성분 조성 및 구조분석을 위하여 고 분해능 및 공간분해능을 분석을 가능하게 하는 필수 기본장비로서 연구개발부문과
현장에서 공통으로 사용되는 장비임
재료의 표면에 FE-GUN에서 방출되는 전자를 조사하고 그로부터 투과 및 회절 되는 전자 및 X-ray를 검출하여 영상을 구성하여 재료의 구조 및 조성을 분석하는 원리임Resolution : 0.14nm Lattice
Accelerating Voltage : 80 to 200 kV
Magnification : x50 ~ 1500000재료(금속세라믹유기화합물)의 미세조직 관찰: 나노사이즈 크기관찰
재료(미지시료)의 결정구조 해석 (회절패턴 관찰 가능)
재료(금속세라믹(복합체))의 정성 및 정량 분석(EDS)
장비이미지코드 http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201308/.thumb/2013082210332396.jpg
장비위치주소 경기 안산시 상록구 사3동 한양대학교 1271번지 한양대학교 안산캠퍼스 제5공학관 1층 109
NFEC 등록번호 NFEC-2011-01-135474
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0023171
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, 주제어 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
주제어 (키워드)