투과전자현미경
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Jeol |
모델명 | JEM-2100F |
장비사양 | |
취득일자 | 2009-07-14 |
취득금액 |
보유기관명 | 한양대학교 ERICA캠퍼스 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | A205 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | 전자 재료 화공 기계 및 생물분야에서 연구개발과 제품 및 부품의 성능을 분석 평가하는데 잇어서 필수적인 성분 조성 및 구조분석을 위하여 고 분해능 및 공간분해능을 분석을 가능하게 하는 필수 기본장비로서 연구개발부문과 현장에서 공통으로 사용되는 장비임 재료의 표면에 FE-GUN에서 방출되는 전자를 조사하고 그로부터 투과 및 회절 되는 전자 및 X-ray를 검출하여 영상을 구성하여 재료의 구조 및 조성을 분석하는 원리임Resolution : 0.14nm Lattice Accelerating Voltage : 80 to 200 kV Magnification : x50 ~ 1500000재료(금속세라믹유기화합물)의 미세조직 관찰: 나노사이즈 크기관찰 재료(미지시료)의 결정구조 해석 (회절패턴 관찰 가능) 재료(금속세라믹(복합체))의 정성 및 정량 분석(EDS) |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201308/.thumb/2013082210332396.jpg |
장비위치주소 | 경기 안산시 상록구 사3동 한양대학교 1271번지 한양대학교 안산캠퍼스 제5공학관 1층 109 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2011-01-135474 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0023171 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |