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장비 및 시설 기본정보
반도체파라미터분석기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Agilent Technologies |
| 모델명 | B1500A |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2012-12-26 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 광주과학기술원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | C514 |
| 표준분류명 | 시험 |
| 시설장비 설명 | 반도체파라미터 분석기로 전자부품인 반도체 측정을 위한 필수적인 장비로 -100V/-100mA ~ +100V/100mA 범위의 전압과 전류를 가변하여 반도체 특성 항목 중 하나인 IV/CV-curve 측정을 위한 장비이다. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201212/20121227100322.jpg |
| 장비위치주소 | 광주과학기술원 지스트대학C동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2012-12-173539 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0036330 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |