| 보유기관명 |
서울대학교 |
| 보유기관코드 |
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| 활용범위 |
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| 활용상태 |
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| 표준코드 |
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| 표준분류명 |
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| 시설장비 설명 |
특징 : x-선회절의 원리를 이용하여 물질분석. X-ray generator에서 나오는 x-ray를 샘플에 주입시켜 회절되어나오는 x-ray를 detector에서 수집해 물질의 결정구조와 결정화 정도를 알 수 있다. 또한 이를 통해 샘플의 구성물질을 확인 할 수 있다.사용예 : 분석하고자 하는 전극이나 파우더를 샘플 홀더에 올려놓은 후 x-ray를 주입시켜주면 detector에서 그 x-ray를 수집하게된다. 그 회절되어 나온 x-ray는 그 물질 고유의 결정화도에 따라 나타나는데 이를통해 그 물질이 무엇인지 결정화도가 어떻게 바뀌었는지에 대해 알 수 있다. 이를통해 합성된 물질이 무엇인지를 분석 할 수 있을뿐만아니라 전기화학테스트를 한 후 전극의 결정구조 변화 등을 알 수 있다. |
| 장비이미지코드 |
http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201310/.thumb/201310111505347.jpg |
| 장비위치주소 |
서울 관악구 대학동 서울대학교 산 56-1 서울대학교 311동 (화학공정신기술연구소) 2층 202호 |
| NFEC 등록번호 |
NFEC-2011-01-132287 |
| 예약방법 |
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| 카타로그 URL |
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| 메뉴얼 URL |
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| 원문 URL |
http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0021526 |
| 첨부파일 |
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