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엑스레이 발생기

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보유기관명	한국과학기술원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드	B520
표준분류명
시설장비 설명	높은 precision의 4 circle goniometer 높은 파워의 output 뛰어난 안정성 높은 해상도 빠른 속도 등의 고성능 사양으로 X선 회절 무늬가 결정물질에 따라 특유하게 발생하여 결정무늬로 재료의 결정구조를 분석하는데 물질에 X선을 입사시키면 각각의 원자로부터 산란파가 서로 간섭 현상을 일으켜 특정한 방향으로만 회절파가 발생하는 장비로 연구하고자 하는 목적에 적합하며 동 사양 및 종류의 기기는 국내 제작이 불가합니다. 상기 제품은 경쟁사에는 없는 4 circle goniometer와 10 um shpere of confusion(SOC)를 사용하여 모든 데이터를 회절 반응이 적은 샘플도 측정할 수 있으며 보다 빠르고 효과적인 데이터 수집과 계산을 수행할 있으며 가장 큰 beam diameter를 사용하여 넓은 범위의 크리스탈을 측정할 수 있습니다.
장비이미지코드	http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201306/20130605135739412.jpg
장비위치주소	한국과학기술원 KI빌딩
NFEC 등록번호	NFEC-2013-06-179644
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL	http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0038046
첨부파일

기업조회