| 보유기관명 |
한국과학기술연구원 |
| 보유기관코드 |
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| 활용범위 |
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| 활용상태 |
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| 표준코드 |
A206 |
| 표준분류명 |
시험 |
| 시설장비 설명 |
미세구조를 관찰하고자 하는 인류의 꿈은 광학현미경의 한계를 넘는 전자현미경 (Scanning Electron Microscope)을 처음으로 만든 뒤 그 성능은 계속 향상되어 오늘날 의학 생물학 및 전자 재료분야의 연구에서 없어서는 안 될 필수 불가결한 장비가 되고 있으며 또한 과학기술연구의 공통 기초 장비로서 그 필요성이 증대되고 있다 주사전자현미경(SEM; scanning electron microscopy)은 세계적으로 광범위하게 사용되는 연구 또는 생산장비이다. 주사전자현미경은 광학 현미경보다 더 좋은 분해능과 검사 능력을 제공할 뿐만 아니라 다양한 분석 기능을 제공하여 특정한 시편이나 장치의 미세구조 또는 미세한 전자회로에서의 물리적인 화학적 또 는 전기적인 특성 정보를 알 수 있게 해준다. SEM은 나노기술 관련 재료개발 연구뿐만 아니라 시편의 손상과 오염을 최소화하는 연구로 제조상에 비 파괴적으로 공정을 검사할 수 있는 장치로도 활발히 응용되고 있다 주사 전자 현미경은 어떤 물질에 에너지를 가할 경우 물질 고유의 특성 에너지가 발생하는 것을 스캐닝 함으러서 구성원소를 알아낼 수 있고 그 강도로부터 정량 분석을 할 수 있는 기기이다. 고체상태에서 작은 크기의 미세조직과 형상을 관찰하는데 가장 다양하게 쓰이는 현미경 초점 심도가 크기 때문에 차원적인 영상의 관찰이 용이해서 곡면 혹은 울퉁불 퉁한 표면의 영상을 육안으로 관찰하는 것처럼 보여준다. |
| 장비이미지코드 |
http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201712/20160921142131_20110715000000111136 NFEC-2011-07-146776.jpg |
| 장비위치주소 |
한국과학기술연구원 연구동(L4) |
| NFEC 등록번호 |
NFEC-2011-07-146776 |
| 예약방법 |
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| 카타로그 URL |
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| 메뉴얼 URL |
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| 원문 URL |
http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0029448 |
| 첨부파일 |
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