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장비 및 시설 기본정보
4200 반도체 특성평가 시스템
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Keithley Instruments |
| 모델명 | 4200-SCS |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2009-09-01 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 국가핵융합연구소 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | C514 |
| 표준분류명 | 시험 |
| 시설장비 설명 | Solar cell, TFT, Oxide 박막의 I-V, C-V, Resistance, Reliability등의 특성을 측정하고 분석 및 계산하는 용도로 사용되어 짐.Solar cell, TFT, Oxide 박막의 I-V, C-V, Resistance, Reliability등의 특성을 측정하고 분석 및 계산하는 용도로 사용되어 짐. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201508/20150824103227814.JPG |
| 장비위치주소 | 국가핵융합연구소 플라즈마기술연구센터 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2015-08-204443 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0058235 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |