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장비 및 시설 기본정보
광파장측정기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | 광전자정밀 |
| 모델명 | OPI-160 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2009-10-16 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 순천대학교 산학협력단 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | D107 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 1.장비의 개요 1) Wafer-Level LED measurement system은 chip을 dicing하지 않은 wafer상태에서 LED의 전기적 광학적 온도의존성 특성을 동시에 측정하는 장비로서 품질관리 및 연구용으로 편리하도록 제작된 최적의 사용자 인터페이스 환경을 제공하고 있음. 2) Wafer 상태에서 전광선속 측정 및 배광 측정 반사율 측정을 할 수 있도록 개발된 장비이며 한 장비에서 샘플의 위치 이동 없이 분광 분석에 의한 기계적 제어에 의한 모든 광학적 해석이 가능함. 3) 측정 데이터의 표준값은 한국표준과학연구원으로부터 소급 받아서 교정하고 그 데이터에 대한 교정 성적서를 발급 받아서 공급함으로써 항상 한국표준과학연구원대비한 신뢰성 있는 측정 결과치를 제공함. 2. 장비의 특징 1) 정확하고 신뢰성 있는 측정 - CIE(국제 조명 위원회) 측정모드 및 한국표준과학연구소 표준값 소급 - Keithley를 이용한 고정밀 측정 - TE Cooled 2048 pixel CCD 센서를 이용한 저노이즈 고정밀 고재현성 구현 - 측정데이터를 분석 및 정리 중첩하여 2차원 3차원그래프와 데이터리스트로 배광특성 표현 2) 연구개발에 최적 - 웨이퍼수준에서 필요한 광학적/전기적/온도의존성 통합측정 - 측정의 자동화 및 편리한 사용자 환경 - 고배율 현미경 및 카메라 통한 chip의 관찰 - 많은 연구자들에 의한 필요한 기능 통합 및 검증 3) 다양한 항목을 간편하게 측정 User Interface (주문형 소프트웨어 설계 가능) |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201101/.thumb/20110124200723.JPG |
| 장비위치주소 | 전남 순천시 매곡동 315 순천대학교 WCU사업단 108호 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2011-01-135863 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0023629 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |