TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Jeol |
모델명 | JEM-2000FX |
장비사양 | |
취득일자 | 1994-01-10 |
취득금액 |
보유기관명 | 한국원자력연구원 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | A205 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | 전자현미경으로서 백만배까지 볼수 있으며 재료의 결함까지 분석가능 결정구조 및 시편의 형상을 관찰할 수 있다 - 사용인가전압 : 120,160, 200 kV - 전자 필름현상방식 - 시편제작기기 : 연마기, 이온밀러, 딤플러, 제트폴리싱, 울트라 소닉커터 등등 |
장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images// |
장비위치주소 | 한국원자력연구원 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2006-09-042901 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0051641 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |