디지털 샘플링 오실로스코우프
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Tektronix |
모델명 | TK11801B |
장비사양 | |
취득일자 | 1997-01-04 |
취득금액 |
보유기관명 | 광주과학기술원 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | DC to 50-GHz Bandwidth 7-ps Rise Time 8 Channels Expandable to 136 (with SM-11) 10-fs Sampling Interval (0.01 ps) Modular Architecture 200-kS/s Sample Rate Dual Time Base Nonvolatile Waveform and Setting Storage FFT Predefined Telecom Masks (Opt. 1T) TDR Automatic Measurements: Jitter/Noise Statistical Histograms Mask Testing Pulse with Statistics Programmable for ATE Applications Comprehensive Waveform Processing Color DisplayRise Time/Bandwidth - Determined by the sampling head used. Vertical Resolution - 8-bit full screen (78 μV/LSB at 2 mV/div deflection factor). Amplifier Gain Accuracy - ±1% of all settings. Deflection Factors - 2 to 255 mV/div in 1 mV/div increments. Offset Range - ±2 V.Semiconductor Testing and Fiber sensor Testing TDR Characterization of Circuit Boards IC Packages and Cables |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201310/.thumb/20131008112453528.jpg |
장비위치주소 | 광주 북구 오룡동 광주과학기술원 1 정보통신공학과 A동 3층 308 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2001-05-025704 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0012135 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |